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掃描電子顯微鏡(SEM)是一種介于透射電子顯微鏡與光學顯微鏡之間的一種觀察手段。它是運用聚焦十分窄的高能電子束來掃描樣品，通過光束合物質(zhì)間的相互作用，來激發(fā)各種物理信息，對這些信息收集、放大還有再成像為了達到對物質(zhì)微觀形貌表征的目的。新式的掃描電子顯微鏡的分辨率能夠達到1nm；放大倍數(shù)能夠達到三十萬倍或者以上連續(xù)可調(diào)；并且景深大，視野大，成像立體效果好。除此之外，掃描電子顯微鏡與其他分析儀器相結合，能夠做到觀察微觀形貌的同時進行物質(zhì)微區(qū)成分分析。掃描電子顯微鏡在巖土、石墨、陶...

掃描電鏡中STEM透射模式的應用透射電鏡的加速電壓較高(一般為120-200kV)，對于有機高分子、生物等軟材料樣品的穿透能力強，形成的透射像襯度低，而掃描電鏡的加速電壓較低(一般用10-30kV)，因此應用其STEM模式成透射像，可大大提高像的襯度。有機太陽能電池用的高分子/富勒烯薄膜(有機固體實驗室樣品)的透射電子像，在用透射電鏡觀察其分相結構時，由于兩部分襯度都低，因此幾乎無法區(qū)分，而應用掃描電鏡的STEM模式觀察時，可清楚地觀察到兩相的結構。應用透射電鏡觀察生物樣品時...

掃描電子顯微鏡SEM的基本知識，一定要了解在材料領域中，掃描電鏡技術發(fā)揮著極其重要的作用，被廣泛應用于各種材料的形態(tài)結構、界面狀況、損傷機制及材料性能預測等方面的研究。利用掃描電鏡可以直接研究晶體缺陷及其產(chǎn)生過程，可以觀察金屬材料內(nèi)部原子的集結方式和它們的真實邊界，也可以觀察在不同條件下邊界移動的方式，還可以檢查晶體在表面機械加工中引起的損傷和輻射損傷等。掃描電鏡的結構及主要性能掃描電鏡可粗略分為鏡體和電源電路系統(tǒng)兩部分。鏡體部分由電子光學系統(tǒng)、信號收集和顯示系統(tǒng)以及真空抽氣...

掃描電子顯微鏡(SEM)是1965年發(fā)明的細胞生物學研究工具，主要是利用二次電子信號成像來觀察樣品的表面形態(tài)，即用極狹窄的電子束去掃描樣品，通過電子束與樣品的相互作用產(chǎn)生各種效應，其中主要是樣品的二次電子發(fā)射。二次電子能夠產(chǎn)生樣品表面放大的形貌像，這個像是在樣品被掃描時按時序建立起來的，即使用逐點成像的方法獲得放大像。一.原理：如果入射電子撞擊樣品表面原子的外層電子，把它激發(fā)出來，就形成低能量的二次電子，在電廠的作用下它可呈曲線運動，翻越障礙進入檢測器，使表面凹凸的各個部分都...

掃描電鏡的放大倍數(shù)像素大小和標尺顯微鏡把原先的物體放大成圖像便于我們觀察，物與像的尺寸關系可通過放大倍數(shù)來衡量。放大率或者放大倍數(shù)(Magnification)，被定義為像寬度L與物寬度l的比值，即：M=L/l(1-1)在掃描電鏡中，一端是電子束在樣品表面l范圍內(nèi)掃描，另一端是信號在顯示器上顯示寬度為L的像，如圖1-2所示的對應關系。通常電鏡顯示器上圖像的寬度L是固定的，所以往往通過調(diào)節(jié)物的尺寸l來改變放大倍數(shù)。尺寸l越大，可以觀察到的范圍(即視場)越大，而放大倍數(shù)越小，這樣...